日照模擬試驗、日照試驗室、日照環(huán)境模擬、日照試驗?zāi)M、太陽輻射模擬、太陽輻射試驗、太陽輻射模擬試驗、太陽輻射環(huán)境模擬、太陽輻射環(huán)境試驗、惡劣環(huán)境、老化試驗環(huán)境模擬、太陽模擬、太陽輻射、模擬太陽輻射

主要用途：

這是一項對暴露在陽光下的兵器及其制造材料進行的試驗。太陽輻射可引起光化學(xué)效應(yīng)和熱效應(yīng)。在大多數(shù)情況下，這項試驗可以代替高溫試驗。通過日照試驗可檢驗太陽輻射對兵器或有關(guān)材料的使用或露天存儲的影響。

太陽輻射試驗（氙燈暴露試驗、碳弧燈暴露試驗、鹵素?zé)舯┞对囼灒┘訜嵝?yīng)主要是由太陽輻射能中紅外光譜部分產(chǎn)生的,主要引起產(chǎn)品短時高溫和局部過熱,造成一些對溫度敏感的元器件失效,結(jié)構(gòu)材料的機械破壞和絕緣材料的過熱損壞等。

技術(shù)參數(shù)：
①溫度范圍：RT(室溫)+10℃～63℃，試驗黑板溫度：65℃±3℃ 

②濕度范圍：40%RH～95% RH

③降雨周期：0～240min,間隔(斷)可調(diào)

④降雨時間：0～9999min,可調(diào)

⑤波長范圍：290nm～800nm 輻照強度：550W/m2 

以上參數(shù)都可以根據(jù)用戶需求進行非標(biāo)定制。