安捷倫惠普HP4193A 阻抗分析儀

主要用途
測試材料的阻抗Z，導(dǎo)納Y，電感L，電阻R,介電損耗D ,品質(zhì)因數(shù)
射頻阻抗計量器具檢定系統(tǒng)Verification Scheme of RF
Impedance Measuring Instruments 　　
JJG 2011-87代替：高頻阻抗量值傳遞系統(tǒng)
射頻阻抗計量器具檢定系統(tǒng)
本檢定系統(tǒng)適用于射（高）頻集總參數(shù)阻抗計量器具（即檢測20kHz-1GHz頻段的
R，L，C元件和材料電磁特性所有物儀器設(shè)備和量具、標(biāo)準(zhǔn)件），規(guī)定了射頻（習(xí)慣
上也稱高頻）集總參數(shù)阻抗量的量值溯源途徑、傳遞程序及計量器具的檢定方法。

一、計量基準(zhǔn)器具
1、高頻集總參數(shù)阻抗的國jia計量基準(zhǔn)器具是指用于復(fù)現(xiàn)和保存20kHz-1000GHz高
頻阻抗量值（包括電介質(zhì)材料的復(fù)數(shù)介電常數(shù)和軟磁材料的復(fù)數(shù)導(dǎo)磁率）的計量設(shè)備
和量具。
2、射（高）頻集總參數(shù)阻抗計量基準(zhǔn)器具包括：
 2.1空氣介質(zhì)同軸線阻抗基準(zhǔn)，其阻抗量值由同軸線尺寸和材料電磁特性論
計算求得。它用以校準(zhǔn)按反射系數(shù)測量原理設(shè)計的高頻阻抗***測量裝置?？諝饨橘|(zhì)
同軸線也是微波阻抗國jia基準(zhǔn)，本檢定系統(tǒng)移用它，有利于射（高）頻、微波阻抗量值的統(tǒng)一。在（1-1000）MHz頻段，其技術(shù)指標(biāo)為：反射系數(shù)模值｜г｜：1.000±0.002；　　　　相角：±180°±0.5°。
 2.2高頻阻高頻阻抗***測量裝置，它是利用從美國引進的HP4191A高頻阻抗分析儀，經(jīng)過準(zhǔn)確度論證分析，***高頻集總參數(shù)阻抗量的以下計量工作性能：
　　　　頻率：（1-1000）MHz
　　　　反射系數(shù)模值｜г｜：1.000±(0.003-0.007)
　　　　相角θ：±180°±0.5°；
　　　　阻抗模值｜Z｜：1Ω-10kΩ±（0.5-10）%
　　　　電容C：10pF-100nF±(0.2-10)%;
　　　　電感L：10nH-100μH±（0.2-10）%
　　　　損耗：tgδ（D）0.001-0.5±<(0.002-0.05)

回收銷售:

美國原裝NI-PCI系列數(shù)據(jù)采集

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NI-PCI-8513/2、NI-PCI-GPIB 小卡等NI-PCI系列采集卡

PCIE-6320 PCIE-6321 PCIE-6353 PCIE-6361

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